Material Scanner Using mmW-Radiation

Christian Krebs, Dirk Nüßler, Sven Heinen, Daniel Zeru, Thorsten M. Buzug

Abstract

The aim of this project is the development of a measurement system in millimetre wave frequency range for material or medical analysis. Owing to the growing demand for low cost and high performance systems as in the quality control of modern production lines requires a new generation of measurement systems. The characterization of the millimetre wave system and the advantages of the imaging systems using mmW-radiation will be presented.

OriginalspracheEnglisch
Titel2006 European Microwave Conference
Seitenumfang4
Herausgeber (Verlag)IEEE
Erscheinungsdatum01.12.2007
Seiten1453-1456
Aufsatznummer4058111
ISBN (Print)2-9600551-6-0
DOIs
PublikationsstatusVeröffentlicht - 01.12.2007
Veranstaltung36th European Microwave Conference - Manchester, Großbritannien / Vereinigtes Königreich
Dauer: 10.09.200612.09.2006
Konferenznummer: 71711

Fingerprint

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