Analysis and predictability of technologists' perception of MR exam complexity
X. Wang*, F. Uhlemann, J. Borgert, S. C. Chaduvula, R. Tellis, A. Frydrychowicz, J. Barkhausen, T. Amthor
*Korrespondierende/r Autor/-in für diese Arbeit
X. Wang*, F. Uhlemann, J. Borgert, S. C. Chaduvula, R. Tellis, A. Frydrychowicz, J. Barkhausen, T. Amthor